使用高級技術探頭對高溫氫攻擊缺陷進行檢測
儘早探測到高溫氫攻擊（HTHA）損傷有助於避免石油、天然氣和石化設施的關鍵性高壓資產出現災難性的故障。
對資產狀況進行評估至關重要，不過要探測並評估高溫氫致（HTHA）缺陷，以傳統（UT）方式進行檢測，非常具有挑戰性。
為了應對挑戰，OLYMPUS研發一種專用於探測早期階段高溫氫攻擊（HTHA）損傷的探頭。解決方案包括陣列式雙晶線性（DLA）探頭、陣列式（PA）探頭和DLA探頭，經過微調的PA探頭可以進行全聚焦方式（ TFM）檢測。
這些檢測方法與TOFD篩查結合起來，形成了一套完整的多技術檢測方案。
陣列式斜束探頭DLA
- 高分辨率，10 MHz，32個晶片，雙晶陣列
- 具有強大的聲束偏轉能力，可覆蓋更多的焊道區域和熱影響區（HAZ）
- 其已獲專利的樞軸外殼可提供更長的聚焦範圍，從而可獲得更高的檢出率（POD）
結合零度楔型塊的DLA探頭（REX1）
- 10 MHz，64個晶片，雙晶陣列
- 聲束寬度覆蓋範圍高達30mm
- 可以調節的穩固和硬質合金防磨裝置，可以緊密地貼合在外徑小至101.6mm的管道表面上
- 整合型楔型塊可以覆蓋從4mm到95mm的厚度範圍
- 與編碼器或掃描器搭配，可以提供清晰的C掃描圖像
全聚焦方式（TFM）探頭A31/A32
- 包含多個微小晶片
- 高頻率
- 在探測高溫氫致（HTHA）缺陷時，可以充分發揮全聚焦方式（TFM）檢測的潛力
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